随着信息化的发展， MCU运算和信息存储速度越来越快，高速时钟、快速运算和存储信号会引起的很强的电磁干扰；由于系统集成度越来越高，零部件的体积越来越小，零部件模块干扰之间的相互耦合不可避免，很容易将内部的干扰带出来从而引起发射测试失败。
另一方面，受能耗越来越小的要求，开关电源大量使用在汽车电子零部件中，开关电源的快速开关切换也会引起很强的电磁发射；新能源汽车的电机控制器、DC/DC、OBC等零部件，都有很高的电源功率转换模块，这些模块也会带来很强的电磁干扰。
汽车电子发射测试项目
1、CTE测试失败CTE测试的失败一般由内部大功率的磁性器件引起，如电机的线圈，电磁铁的线圈、滤波电路中的大功率电感等，这些部件在关闭的瞬间会产生很强的瞬态脉冲。
CTE测试失败数据
2、MFE测试失败MFE测试的失败一般由内部大功率的磁性器件引起，如电机的线圈，电磁铁的线圈、新能源部件中的大功率感性部件等，这些部件在工作时会产生的低频磁场干扰。
MFE测试失败数据
CE测试中的失败一般由开关电源和地处理不良引起，测试数据中的窄带骚扰引起超标一般为开关电源引起，宽带骚扰超标一般由地处理不良引起。
4、RE测试失败
RE测试中的低频失败一般由开关电源和地处理不良引起，高频失败一半为内部时钟或晶振的处理不良引起倍频超标，这些信号会有很强的规律，很容易区分。
开关电源模块引起的RE测试失败
地处理不良引起的RE测试失败
来源：TUV莱茵
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